Polarisationsmikroskope zur Analyse doppelbrechender Proben, Identifikation optisch anisotroper Mineralien und Messung innerer Materialspannungen in Kunststoffen, Gläsern und Kristallen. In unserem Shop finden Sie normgerechte Durchlicht- und Auflicht-Polarisationsmikroskope mit präzise zentrierbaren, 360°-drehbaren Objekttischen, Polarisationsfiltern sowie Bertrand-Linsen für die Geowissenschaften, Petrographie und industrielle Qualitätskontrolle.

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Funktionsprinzip der Polarisationsmikroskopie

Die Polarisationsmikroskopie nutzt das Verhalten von polarisiertem Licht beim Durchgang durch optisch anisotrope (doppelbrechende) Substanzen. Der optische Aufbereitungstrahlengang basiert auf zwei aufeinander abgestimmten Polarisationselementen:

  • Polarisator: Befindet sich im Beleuchtungsstrahlengang vor der Probe und wandelt unpolarisiertes Licht in linear polarisiertes Licht um.

  • Analysator: Sitzt im Abbildungsstrahlengang zwischen Objektiv und Okular. Stehen Polarisator und Analysator gekreuzt (90°-Winkel zueinander), erscheint das Bildfeld ohne doppelbrechende Probe vollständig dunkel.

  • Doppelbrechung & Interferenzfarben: Anisotrope Materialien teilen den Lichtstrahl in zwei senkrecht zueinander schwingende Teilstrahlen mit unterschiedlichen Ausbreitungsgeschwindigkeiten. Beim Passieren des Analysators interferieren diese Lichtwellen und erzeugen charakteristische Interferenzfarben (auswertbar nach der Michel-Lévy-Farbtafel), die Rückschlüsse auf Materialstruktur, Kristallorientierung und Schichtdicken zulassen.

Anwendungsbereiche in Forschung und Werkstoffprüfung

  • Geologie, Petrologie & Mineralogie: Quantitative Erfassung und Klassifikation von Gesteins-Dünnschliffen, Mineralen und Erzen.

  • Kunststoff-, Faser- & Glasindustrie: Zerstörungsfreie Detektion von Eigenspannungen (Spannungsdoppelbrechung), Mikrorissen, Orientierungen von Polymerketten und Einschlussanalysen.

  • Chemie & Pharmazie: Identifikation von Polymorphie, Kristallisationsprozessen und Reinheitsprüfungen organischer Substanzen.

Spezifische Komponenten von Polarisationsmikroskopen

  • Zentrierbarer 360°-Drehtisch: Kugelgelagerter Rundtisch mit Gradskala und Nonius zur exakten Ermittlung von Auslöschungswinkeln und optischen Achsenlagen der Probe.

  • Bertrand-Linse (Konoskopie): Eine einschwenkbare Optik zur Betrachtung der brennebenenbezogenen Interferenzfiguren (Achsenbilder), mit deren Hilfe ein- und zweiachsige Kristalle unterschieden werden können.

  • Kompensatoren & Verzögerungsplatten: Einschübe wie das $\lambda$-Plättchen (Rot I) oder der Quarzkeil dienen der Bestimmung des optischen Charakters (positiv/negativ) und zur feinen Gangunterschiedsmessung.

FAQ: Fragen & Antworten zu Polarisationsmikroskopen

1. Was unterscheidet die orthoskopische von der konoskopischen Beobachtung?

Die orthoskopische Beobachtung liefert das normale, vergrößerte Bild des Objektbereichs zur Beurteilung von Form, Farbe und Auslöschungswinkel. Die konoskopische Beobachtung schaltet eine Bertrand-Linse in den Strahlengang, um Interferenzfiguren in der hinteren Brennebene des Objektivs sichtbar zu machen. Dies dient der Bestimmung von optischer Achsigkeit und dem optischen Charakter von Kristallen.

2. Warum benötigt ein Polarisationsmikroskop stressfreie (strain-free) Objektive?

Standard-Objektive weisen durch die Linsenfassung minimale innere Glas-Spannungen auf, die selbst eine leichte Doppelbrechung erzeugen würden. Für Polarisationsmikroskope werden speziell selektierte, spannungsfreie Objektive verwendet, um die Messmessergebnisse nicht durch Eigenpolarisation der Optik zu verfälschen.

3. Wozu dienen Kompensatoren wie das Lambda-Plättchen (Rot I)?

Kompensatoren sind Verzögerungsplatten mit definiertem optischen Gangunterschied. Das Lambda-Plättchen (Rot I, ca. 550 nm) wandelt schwache Doppelbrechungs-Interferenzfarben erster Ordnung in deutliche Farbkontraste um und erlaubt die Bestimmung der Additions- und Subtraktionslagen doppelbrechender Strukturen.

4. Welches Mikroskop eignet sich für die Spannungsprüfung an Glas oder Kunststoffen?

Für die Analyse innerer mechanischer Spannungen in transparenten Bauteilen wird ein Durchlicht-Polarisationsmikroskop verwendet. Bei undurchsichtigen Werkstoffproben oder polierten Anschliffen kommt ein Auflicht-Polarisationsmikroskop zum Einsatz.

5. Welches Zubehör für Polarisationsmikroskope finden Sie in unserem Shop?

In unserem Shop finden Sie passendes Zubehör wie Gesteins-Dünnschliff-Halter, Mess-Kompensatoren (z. B. Berek-Kompensator), Objektmikrometer, C-Mount-Kameraadapter sowie kalibrierbare Polarisations-Analysesoftware.